[实用新型]多用元器件电性能参数测试治具

说明书

本实用新型涉及测试技术领域，且公开了多用元器件电性能参数测试治具，包括PCB板，所述PCB板前侧的中部栓接有测试台，所述测试台前侧的顶部和底部分别开设有第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于第二凹槽的顶部，所述第一凹槽的内部栓接有测试金属上脚，所述第二凹槽的内部栓接有测试金属下脚；本实用新型通过PCB板、测试台、第一凹槽、第二凹槽、测试金属上脚、测试金属下脚、测试金属杆和检测件的设置，使得该测试治具可以实现不同功能元器件的共用测试，有效节省测试成本，提升测试效率，解决了现有SOT23‑6产品的测试治具，都只满足单一类别产品的测试，仅能对本产品使用，不能用于其它类别产品的问题。

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，具体为多用元器件电性能参数测试治具。

背景技术

SOT23-6产品的测试治具是用于测试元器件电性能参数的治具，但是现有SOT23-6产品的测试治具，都只满足单一类别产品的测试，这种治具仅能对本产品使用，不能用于其它类别产品，为此提出一种可以实现不同功能元器件的共用测试，有效节省测试成本，提升测试效率的测试治具以解决上述存在的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供多用元器件电性能参数测试治具，具备可以实现不同功能元器件的共用测试，有效节省测试成本，提升测试效率的优点，解决了现有SOT23-6产品的测试治具，都只满足单一类别产品的测试，这种治具仅能对本产品使用，不能用于其它类别产品的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：多用元器件电性能参数测试治具，包括PCB板，所述PCB板前侧的中部栓接有测试台，所述测试台前侧的顶部和底部分别开设有第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于第二凹槽的顶部，所述第一凹槽的内部栓接有测试金属上脚，所述第二凹槽的内部栓接有测试金属下脚，所述测试金属上脚和测试金属下脚均与PCB板电性连接，所述PCB板前侧的两端均焊接有测试金属杆，所述测试金属杆的数量为六个，所述测试金属杆的后端与PCB板电性连接，所述PCB板的表面并位于测试台的附近焊接有检测件，所述检测件的后端与PCB板的表面电性连接，所述检测件的数量为十个，所述检测件均匀的分布于测试台的两侧。

优选的，所述测试台的顶部铰接有夹持块，所述夹持块由绝缘塑料制成。

优选的，所述检测件的后端套接有连接块，所述连接块的后侧与PCB板的表面卡接。

优选的，所述PCB板的表面并位于测试金属杆之间内嵌有连接套，所述连接套的数量为四个。

优选的，所述PCB板表面的四角均开设有连接孔，所述连接孔为通孔结构。

优选的，所述PCB板的前侧和后侧均分布集成线路，所述测试金属上脚、测试金属下脚、测试金属杆和检测件均与集成线路电性连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

本实用新型通过PCB板、测试台、第一凹槽、第二凹槽、测试金属上脚、测试金属下脚、测试金属杆和检测件的设置，使得该测试治具可以实现不同功能元器件的共用测试，有效节省测试成本，提升测试效率，解决了现有SOT23-6产品的测试治具，都只满足单一类别产品的测试，仅能对本产品使用，不能用于其它类别产品的问题。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型结构后视示意图；

图3为本实用新型结构立体示意图；

图4为本实用新型电路示意图。

图中：1、PCB板；2、测试台；3、第一凹槽；4、第二凹槽；5、测试金属上脚；6、测试金属下脚；7、测试金属杆；8、检测件；9、夹持块；10、连接块；11、连接套；12、连接孔。

具体实施方式