[实用新型]一种半导体集成电路测试用插座有效
| 申请号： | 202020020606.2 | 申请日： | 2020-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN211320428U | 公开（公告）日： | 2020-08-21 |
| 发明（设计）人： | 柯武生;王桂桂;黄崇城;张进国 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯汇群微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | H01R13/502 | 分类号： | H01R13/502;H01R13/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518026 广东省深圳市福田区福田街道福*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开一种半导体集成电路测试用插座，其包括固定基座，所述固定基座包括上固定座、中固定座和下固定座，所述中固定座上并列设有第一安装座和第二安装座，所述第一安装座内设有若干第一安装孔，所述第二安装座内设有若干第二安装孔，所述上固定座上设有与若干第一安装孔相对应的若干第三安装孔，所述第三安装孔上设有半导体集成电路，所述上固定座上还设有与第二安装座相对应的通孔，所述下固定座上设有测试基板；弹簧探针，所述弹簧探针设于所述第一安装孔和第二安装孔内。本实用新型的第一安装座和第二安装座内的弹簧探针可以交替工作，不会因为要进行清洁而影响测试效率，测试效率较高，并且可以保证测试结果的准确度和测试良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 集成电路 测试 插座 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市芯汇群微电子技术有限公司，未经深圳市芯汇群微电子技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202020020606.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
