[发明专利]一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统有效
| 申请号： | 202011592289.2 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112816185B | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 周少丰;黄良杰;林文烽;陈永平 | 申请（专利权）人： | 深圳市星汉激光科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;H01S5/00 |
| 代理公司： | 武汉瑞创星知识产权代理事务所(普通合伙) 42274 | 代理人： | 曹雄 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区福海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统，涉及半导体激光技术领域；该系统包括：待测试的半导体激光器、光功率计和光纤合束分束模块；所述光纤合束分束模块包括具有多个输入分支的一端及多个输出分支的另一端；所述激光器和所述光功率计分别熔接在一端的两个端口，另一端的两个端口相互熔接，形成回返光路；可直观且准确的测得半导体激光器的耐回返光阈值，对半导体激光器的设计与制造具有重要的参考意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 回返 能力 测试 系统 | ||
【主权项】：
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