[发明专利]β射线法颗粒物监测仪采样斑点混匀的装置及方法在审

专利信息
申请号: 202011498631.2 申请日: 2020-12-17
公开(公告)号: CN112629952A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 罗武文;敖小强;金陈祎;张伟;李四寿 申请(专利权)人: 北京雪迪龙科技股份有限公司
主分类号: G01N1/22 分类号: G01N1/22;G01N15/06;B01F5/00
代理公司: 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 代理人: 谢清萍;冷文燕
地址: 102206*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供一种β射线法颗粒物监测仪采样斑点混匀的装置、系统及方法,涉及大气颗粒物监测领域。所述装置包括:采样平台、进气压头,所述进气压头设置在所述采样平台上,所述进气压头包括:主采样气路,设置在所述采样平台上;辅助气路,设置在所述主进气口之外,联通采样平台;孔混匀气室,联通所述主采样气路和所述辅助气路,其中总排出气路,设置在所述采样平台的侧面。根据本申请的装置和方法,通过辅助气路的引进,可以使气室内部流动的气体发生涡流,从而使气体中的颗粒物能均匀的被富集在采样斑点上;通过辅助气路引入洁净的气体,为颗粒物监测仪增加自清洁和校准功能,提高β射线吸收法颗粒物监测仪最终的监测准确性。
搜索关键词: 射线 颗粒 监测 采样 斑点 装置 方法
【主权项】:
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