[发明专利]β射线法颗粒物监测仪采样斑点混匀的装置及方法在审

专利信息
申请号: 202011498631.2 申请日: 2020-12-17
公开(公告)号: CN112629952A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 罗武文;敖小强;金陈祎;张伟;李四寿 申请(专利权)人: 北京雪迪龙科技股份有限公司
主分类号: G01N1/22 分类号: G01N1/22;G01N15/06;B01F5/00
代理公司: 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 代理人: 谢清萍;冷文燕
地址: 102206*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 射线 颗粒 监测 采样 斑点 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种用于监测仪采样气体混匀的装置,其特征在于,包括:采样平台、进气压头,所述进气压头设置在所述采样平台上,所述进气压头包括:

主采样气路,设置在所述采样平台上;

辅助气路,设置在所述主采样气路之外,联通所述采样平台,所述辅助气路末端气连接第一动力装置,为所述辅助气路供气;

孔混匀气室,联通所述主采样气路和所述辅助气路,其中

总排出气路,设置在所述采样平台的侧面,与所述孔混匀气室联通,所述总排出气路末端气连接第二气体动力装置,辅助排气。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,在所述辅助气路里包括:

第一流量调节装置,设置于辅助气路中,调节辅助气路中的气流大小;

第一流量检测装置,设置于气流流过所述第一流量调节装置之后的辅助气路中,用于检测辅助气路中气流大小;

第一气体过滤装置,设置于气流流过所述第一流量调节装置之前的辅助气路中,用于过滤气流中的杂质。

3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述主采样气路和所述辅助气路的相对位置可选择垂直、对峙、同向、侧置设置。

4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述总排出气路中包括:

第二流量调节装置,设置于总排出气路中,调节总排出气路中的气流大小;

第二流量检测装置,设置于气流流过所述第二流量调节装置之前的总排出气路中,用于检测总排出气路中气流大小;

第二气体过滤装置,设置于所述总排出气路中,用于过滤采样后的混匀气体。

5.根据权利要求2或3所述的装置,其特征在于,在所述采样平台后侧加装恒定流量控制装置,控制所述第一气体动力装置、所述第一气体过滤装置、所述第一流量调节装置、所述第一流量检测装置、所述第二气体动力装置、所述第二气体过滤装置、所述第二流量调节装置和所述第二流量检测装置。

6.一种用于监测仪采样气体混匀的方法,包括:

气体经所述第一气体动力装置进入所述辅助气路;

气体经过所述第一气体过滤装置,得到过滤后的气体;

所述过滤后的气体,经过所述第一流量调节装置调整到设定的恒流点,进入所述孔混匀气室;

再通过调节主气路流量调节阀,保持所述主采样气路的进气流量稳定,形成混匀的采样气体;

所述采样气体经过所述总排出气路,经过所述第二流量调节装置调整到设定的总排出气路流量稳定范围;

所述采样气体经过第二气体过滤装置,从所述第二动力装置排到环境。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述恒流点为3L/min;所述保持主气路的流量稳定范围为(16.67±0.5)L/min;所述总排出气路流量稳定范围为(16.67±0.5)L/min。

8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,颗粒物监测仪在一个工作周期结束后和下一个工作周期开始前,仅通入所述辅助气路的洁净气体;

再通过调节所述恒定流量控制装置,设定流量调节装置在清洁模式下洁净气流值,所述洁净气流值大于所述恒流点,实现清洁所述用于监测仪采样气体混匀的装置。

9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,颗粒物监测仪在一个工作周期结束后,进入零点校准模式。在下一个工作周期,仅通入所述辅助气路的洁净气体;

再通过调节所述恒定流量控制装置,设定流量调节装置在零点模式下校准气流值,所述校准气流值大于所述恒流点,实现对颗粒物监测仪的零点校准。

10.一种用于监测仪采样气体混匀的恒定流量系统,其特征在于,包括:

第一气体动力单元,用于把空气引入所述辅助气路;

第一气体过滤单元,用于过滤空气中的杂质;

第一流量调节单元,用于调节气体流过辅助气路的流量;

第一流量测量单元,用于检测气体流量;

第二气体动力单元,用于把空气引入所述总排出气路;

第二气体过滤单元,用于过滤所述采样气体;

第二流量调节单元,用于调节气体流过总排出气路的流量;

第二流量测量单元,用于检测所述采样气体流量。

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