[发明专利]一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机有效
| 申请号： | 202011388839.9 | 申请日： | 2020-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN112478774B | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 周光杰;余振涛 | 申请（专利权）人： | 群沃电子科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/91 | 分类号： | B65G47/91;B65G47/74 |
| 代理公司： | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人： | 王月松 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机。本发明包括：自动测试柜设于机器钣金内部；机械手臂的X轴水平移动机构固定于高台上；机械手臂抓取器件测试盘，并将器件测试盘置于测试单元格，以及取出测试单元格内的器件测试盘；料盘轨道设于机器钣金上，料盘轨道在高台的下前方两端连接自动进料端和自动出料端；自动进料端提供待测试的器件测试盘，自动出料端储存测试完成的器件测试盘；扫码器设于机器钣金上且设于料盘轨道的进料端的上方；扫码器扫描器件测试盘上的二维码，并将器件测试信息上传至控制器；控制器根据器件测试信息，控制机械手臂将器件测试盘从料盘轨道搬运至测试单元格。本发明能够提高器件的测试效率，降低人力成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 全自动 芯片 老化 测试 pcb 屏蔽 | ||
【主权项】：
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