[发明专利]一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机

权利要求书

1.一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，其特征在于，包括：机器钣金、自动测试柜、机械手臂、料盘轨道、器件测试盘、扫码器以及控制器；

所述自动测试柜设于所述机器钣金内部；所述自动测试柜上设有多个测试单元格；所述测试单元格用于测试所述器件测试盘内的待测试器件；

所述机器钣金上设有高台，所述机械手臂的X轴水平移动机构固定于所述高台上；所述机械手臂用于抓取所述器件测试盘，并将所述器件测试盘置于所述测试单元格，以及取出所述测试单元格内的所述器件测试盘；

所述料盘轨道设于所述机器钣金上，所述料盘轨道与所述高台在同一垂直方向上平行相对设置；所述料盘轨道用于传输所述器件测试盘；

所述扫码器设于所述机器钣金上且设于所述料盘轨道的进料端的上方；所述扫码器用于扫描所述器件测试盘上的二维码，并将所述二维码上的器件测试信息上传至所述控制器；

所述控制器还分别与每个所述测试单元格、所述机械手臂以及所述料盘轨道相连接；所述控制器用于根据所述器件测试信息，控制所述机械手臂将所述器件测试盘从所述料盘轨道搬运至所述测试单元格；

所述器件测试盘上设有多个测试座；一个所述测试座内嵌一个所述待测试器件；器件可为芯片或PCB模块；

每个所述测试座的内部设有器件测试对接点；所述器件测试盘的外部设有接头；所述器件测试对接点与所述接头相连通；所述器件测试对接点用于连接所述待测试器件的器件测试点位；所述接头用于与所述自动测试柜相连接；

所述测试单元格内设有温度计以及计时显示器；所述测试单元格单独供电、单独控温以及单独计时；相邻的两个所述测试单元格之间设有隔热层和屏蔽层。

2.根据权利要求1所述的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，其特征在于，所述机械手臂，具体包括：X轴水平移动机构、Y轴水平移动机构、Z轴上升机构以及抓取机构；所述X轴水平移动机构、所述Y轴水平移动机构以及所述Z轴上升机构相互垂直；

所述Y轴水平移动机构固定于所述X轴水平移动机构上；所述Z轴上升机构固定于所述Y轴水平移动机构上；所述抓取机构固定于所述Z轴上升机构上；所述X轴水平移动机构用于带动所述Y轴水平移动机构做X向直线运动；所述Y轴水平移动机构用于带动所述Z轴上升机构做Y向直线运动；所述Z轴上升机构用于带动所述抓取机构做上下直线运动。

3.根据权利要求2所述的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，其特征在于，所述抓取机构，具体包括：气缸夹紧装置、旋转马达、旋转电机和上相机；

所述气缸夹紧装置与旋转马达电连接；所述旋转马达与所述旋转电机电连接；所述气缸夹紧装置用于夹紧所述器件测试盘；所述旋转马达用于带动所述气缸夹紧装置做旋转运动；所述旋转电机用于调整抓取和放置所述器件测试盘时所述气缸夹紧装置的角度；

所述上相机设于所述气缸夹紧装置的一侧；所述上相机用于定位所述器件测试盘的当前位置以及所述测试单元格的当前位置。

4.根据权利要求3所述的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，其特征在于，还包括：第一限位气缸；

所述第一限位气缸设于所述料盘轨道的第一位置；所述第一位置与所述扫码器相对设置；所述第一限位气缸与所述控制器电连接；所述第一限位气缸用于阻挡所述器件测试盘传输，并使得所述器件测试盘停留在所述第一位置；由所述扫码器扫描所述二维码之后，所述控制器控制所述第一限位气缸放行所述器件测试盘。

5.根据权利要求4所述的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，其特征在于，还包括：第二限位气缸；

所述第二限位气缸设于所述料盘轨道的第二位置处；所述第二限位气缸用于阻挡所述器件测试盘传输，并使得所述器件测试盘停留在所述第二位置，并由所述机械手臂抓取所述器件测试盘。

6.根据权利要求5所述的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，其特征在于，还包括：下相机；

所述下相机设于所述第二限位气缸的下方，并固定于所述料盘轨道上；当所述抓取机构抓取所述器件测试盘时，所述下相机用于校正抓取所述器件测试盘的抓取位置。

7.根据权利要求6所述的全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试机，其特征在于，还包括：自动进料端以及自动出料端；

所述自动进料端设于所述料盘轨道的进料端；所述自动进料端用于放置未测试的器件测试盘；所述自动进料端在丝杆的带动下，带动所述器件测试盘向上运动，将所述器件测试盘送入所述料盘轨道上；

所述自动出料端设于所述料盘轨道的出料端；所述自动进料端用于放置已测试的器件测试盘；所述器件测试盘在丝杆的带动下下降至所述自动出料端。