[发明专利]发光装置、光学装置以及测量装置在审
| 申请号： | 202011384547.8 | 申请日： | 2020-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN113314948A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 井口大介 | 申请（专利权）人： | 富士胶片商业创新有限公司 |
| 主分类号： | H01S5/026 | 分类号： | H01S5/026;H01S5/024;H01S5/042;H01S5/42;G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨贝贝;臧建明 |
| 地址： | 日本东京*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种发光装置、光学装置以及测量装置，发光装置包括：第一基材；激光部，设在所述第一基材；电容元件，设在所述第一基材，对所述激光部供给驱动电流；配线基板，包含具有比所述第一基材小的导热率的第二基材，且搭载所述第一基材；以及驱动部，搭载于所述配线基板，对所述激光部进行驱动。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 装置 光学 以及 测量 | ||
【主权项】：
暂无信息
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