[发明专利]发光装置、光学装置以及测量装置在审

专利信息
申请号: 202011384547.8 申请日: 2020-12-01
公开(公告)号: CN113314948A 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 井口大介 申请(专利权)人: 富士胶片商业创新有限公司
主分类号: H01S5/026 分类号: H01S5/026;H01S5/024;H01S5/042;H01S5/42;G01B11/24
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨贝贝;臧建明
地址: 日本东京*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 发光 装置 光学 以及 测量
【权利要求书】:

1.一种发光装置,包括:

第一基材;

激光部,设在所述第一基材;

电容元件,设在所述第一基材,对所述激光部供给驱动电流;

配线基板,包含具有比所述第一基材小的导热率的第二基材,且搭载所述第一基材;以及

驱动部,搭载于所述配线基板,对所述激光部进行驱动。

2.根据权利要求1所述的发光装置,其中

所述第一基材的平面形状具有短边方向与长边方向,

所述驱动部是以至少一部分重合于所述短边方向的延长线上且所述长边方向的宽度范围的方式而搭载。

3.根据权利要求2所述的发光装置,其中

所述驱动部是以全部包含在所述短边方向的延长线上且所述长边方向的宽度范围的方式而搭载。

4.根据权利要求2或3所述的发光装置,其中

所述激光部与所述电容元件排列地设在所述长边方向上。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的发光装置,其中

所述激光部在所述第一基材中,偏离向所述驱动部侧而设。

6.根据权利要求5所述的发光装置,其中

所述电容元件在所述第一基材中,偏离向所述驱动部侧而设。

7.根据权利要求1至5中任一项所述的发光装置,其中

所述激光部包含面发光激光元件阵列。

8.根据权利要求1至6中任一项所述的发光装置,其中

所述第一基材包含陶瓷材料。

9.根据权利要求1至6中任一项所述的发光装置,其中

所述第一基材为半导体基板,

在所述半导体基板内形成有驱动所述激光部的所述驱动部。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的发光装置,其

具有使从所述激光部出射的光的方向及扩展角中的至少一者发生变化的光学构件。

11.一种光学装置,包括:

权利要求1至10中任一项所述的发光装置;以及

受光部,接收从所述发光装置所包括的激光部出射并由被测量物予以反射的光,

所述受光部输出一信号,所述信号相当于从自所述激光部出射直至被所述受光部接收为止的时间。

12.一种测量装置,包括:

权利要求11所述的光学装置;以及

三维形状确定部,基于从所述光学装置所包括的激光部出射并由被测量物予以反射而由所述光学装置所包括的受光部接收的光,来确定所述被测量物的三维形状,

所述测量装置对所述被测量物的三维形状进行测量。

13.一种发光装置,包括:

导热率为10W/m·K以上的绝缘性的基材;

激光部,设在所述基材;

电容元件,设在所述基材,对所述激光部供给驱动电流;以及

配线,连接所述激光部与驱动部,所述驱动部驱动所述激光部且设在所述基材外。

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