[发明专利]一种磁芯加工位移检测系统在审
| 申请号： | 202011366321.5 | 申请日： | 2020-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN112444204A | 公开（公告）日： | 2021-03-05 |
| 发明（设计）人： | 王昀 | 申请（专利权）人： | 娄底市利通磁电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 湖南省娄底市兴娄专利事务所(普通合伙) 43106 | 代理人： | 邬松生 |
| 地址： | 417009 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明提供一种磁芯加工位移检测系统，它包括有运算放大器、发光二极管、光敏晶体管，其中，发光二极管、光敏晶体管设置在待检磁芯两侧，发光二极管一端与第一电阻一端连接，第一电阻另一端依次与第二电阻、第三电阻、运算放大器连接后输出，发光二极管另一端依次与光敏晶体管、第五电阻、运算放大器连接后输出。采用本方案后的检测效果好、自动化程度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 加工 位移 检测 系统 | ||
【主权项】：
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