[发明专利]一种磁芯加工位移检测系统在审
| 申请号： | 202011366321.5 | 申请日： | 2020-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN112444204A | 公开（公告）日： | 2021-03-05 |
| 发明（设计）人： | 王昀 | 申请（专利权）人： | 娄底市利通磁电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 湖南省娄底市兴娄专利事务所(普通合伙) 43106 | 代理人： | 邬松生 |
| 地址： | 417009 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 加工 位移 检测 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种磁芯加工位移检测系统，其特征在于：它包括有运算放大器（1PC177）、发光二极管（DV1）、光敏晶体管（VT1），其中，发光二极管（DV1）、光敏晶体管（VT1）设置在待检磁芯两侧，发光二极管（DV1）一端与第一电阻（R1）一端连接，第一电阻（R1）另一端依次与第二电阻（R2）、第三电阻（R3）、运算放大器（1PC177）连接后输出，发光二极管（DV1）另一端依次与光敏晶体管（VT1）、第五电阻（R5）、运算放大器（1PC177）连接后输出。
2.根据权利要求1所述的一种磁芯加工位移检测系统，其特征在于：第二电阻（R2）另一端与光敏晶体管（VT1）连接，光敏晶体管（VT1）与运算放大器（1PC177）负极连接，运算放大器（1PC177）正极分别与第三电阻（R3）另一端、第五电阻（R5）另一端连接。
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