[发明专利]一种测量系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 202011301743.4 申请日: 2020-11-19
公开(公告)号: CN112556585A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 陈鲁;白园园;马砚忠 申请(专利权)人: 深圳中科飞测科技股份有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 赵晓荣
地址: 518109 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种测量系统及测量方法。系统包括光纤激光器、第一光纤分束器、时间延迟器和探测器。光纤激光器产生脉冲光束,第一光纤分束器将脉冲光束分为泵浦光和探测光。时间延迟器使泵浦光和探测光之间的延迟时间可调。两路光最终都射入待测物。探测器用于获取多个不同延迟时间下探测光经待测物反射形成的信号光,根据信号光获取探测信息。从而利用该测量系统实现对待测物的光声测量。该系统中部分光路通过光纤实现,光纤光路具有柔软、形状可随意变化、传输距离远、可适用于各种有强电磁干扰、易燃易爆等恶劣环境的优点,提升了系统的稳定性和抗干扰能力。光纤光路中免除了准直调节等繁琐工作,提升测量过程中器件调节便捷性,缩短测试时间。
搜索关键词: 一种 测量 系统 测量方法
【主权项】:
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