[发明专利]分路不良轨道测试装置在审

专利信息
申请号: 202011163740.9 申请日: 2020-10-27
公开(公告)号: CN112319542A 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 任志俊;戚呈辉;杜小虎 申请(专利权)人: 江南大学
主分类号: B61K9/08 分类号: B61K9/08;G01R27/20
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 殷红梅
地址: 214122 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明属于轨道电路技术领域,涉及一种分路不良轨道测试装置,包括平台及固定于平台上的分路不良测试柜,分路不良测试柜的顶面设置显示器,分路不良测试柜腔体中安装直流电源、单片机、无线传输器、电流传感器,单片机上锡焊电压传感器;平台的底面转动设置前轴、后轴,前轴轴向两端分别设置前导电滑环,后轴的轴向两端分别设置后导电滑环,直流电源正极引出的导线与后轴的右侧的后导电滑环相连,直流电源负极引出的导线经由电流传感器与后轴的左侧的后导电滑环相连,以测量出整个回路中的电流。该测试装置改变传统的人工检测的方式,有效减轻工人劳动强度,能加快分路不良问题的解决效率,并将数据实时显示与保存。
搜索关键词: 分路 不良 轨道 测试 装置
【主权项】:
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