[发明专利]深空探测器的质量在轨测量方法、系统及介质有效
| 申请号： | 202011138735.2 | 申请日： | 2020-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN112208794B | 公开（公告）日： | 2022-07-01 |
| 发明（设计）人： | 信思博;褚英志;朱新波;张伟;牛俊坡;王伟 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | B64G1/22 | 分类号： | B64G1/22 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种深空探测器的质量在轨测量方法、系统及介质，包括：步骤1：在探测器使用轮控模式保持惯性指向时，地面遥控设置深空探测器的推力器发出短脉冲喷气，改变整器角动量；步骤2：根据探测器喷气前后稳态时的角动量变化量和推力器力臂，计算喷气期间的推力冲量；步骤3：根据喷气期间加速度计测得的速度增量和喷气期间的喷气冲量，计算整器质量。本发明测量精度高，燃料消耗少，整器质量估算可用于后续轨控点火时长的计算，提高轨控精度，减少轨控燃料消耗。 | ||
| 搜索关键词： | 探测器 质量 测量方法 系统 介质 | ||
【主权项】：
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