[发明专利]半导体存储装置在审
| 申请号: | 202011118720.X | 申请日: | 2016-07-22 |
| 公开(公告)号: | CN112233713A | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
| 发明(设计)人: | 前嶋洋;柴田升 | 申请(专利权)人: | 东芝存储器株式会社 |
| 主分类号: | G11C16/08 | 分类号: | G11C16/08;G11C16/10;G11C16/24;G11C16/34;G11C16/04;G11C16/26;G11C11/56 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本发明的实施方式提供一种可提升处理能力的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置包含可设定为至少4个阈值电压中的任一个阈值电压的第1存储单元(MT)、第1位线(BL)、字线(WL)、及连接于第1位线(BL)的第1感应放大器(SAU)。第1感应放大器(SAU)是在对字线(WL)施加第1电压的第1验证操作中,对第1位线(BL)施加充电电压(VPCH),在对字线(WL)施加比第1电压高的第2电压的第2验证操作中,不对第1位线(BL)施加充电电压(VPCH),在对字线(WL)施加比第2电压高的第3电压的第3验证操作中,对第1位线(BL)施加充电电压(VPCH)。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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