[发明专利]一种用于硅异质结太阳电池生产的单腔PECVD沉积工艺在审

专利信息
申请号: 202011062480.6 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN112267105A 公开(公告)日: 2021-01-26
发明(设计)人: 刘文柱;张丽平;刘正新;黄圣磊;李晓东 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: C23C16/50 分类号: C23C16/50;C23C16/24;C23C16/56;C23C16/44;H01L31/20
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 宋丽荣
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种用于硅异质结太阳电池生产的单腔PECVD沉积工艺,该硅异质结太阳电池包括本征非晶硅薄膜和掺杂硅薄膜,该单腔PECVD沉积工艺包括在同一PECVD沉积腔室中沉积本征非晶硅薄膜和掺杂硅薄膜,其中,在沉积掺杂硅薄膜之后通过氧化性等离子体对PECVD沉积腔室进行后处理,以利用氧化性等离子体产生的氧化性粒子钝化附着在PECVD沉积腔室上的掺杂原子使其失去活性以避免交叉污染。根据本发明的用于硅异质结太阳电池生产的单腔PECVD沉积工艺,引入氧化性等离子体,实现了对PECVD沉积腔室的沉积腔壁上残余掺杂原子的钝化作用,有效避免了不同硅薄膜沉积之间的交叉污染,而且能够获得很高的光电转换效率。
搜索关键词: 一种 用于 硅异质结 太阳电池 生产 pecvd 沉积 工艺
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