[发明专利]用于存储器的纠错方法、装置、电子设备及介质在审

专利信息
申请号: 202011054228.0 申请日: 2020-09-29
公开(公告)号: CN114333964A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 马凯南;刘鸣;陈弘达 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42;H03M13/11
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周天宇
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供了一种用于存储器的纠错方法,包括:将第一引导序列插入需要存储第一数据的预设位置,得到第二数据;对第二数据进行编码,得到含有校验位信息的第三数据;将第三数据在存储器中读写后,第一引导序列受噪音影响转变成第二引导序列,得到第四数据;利用第一引导序列替换第二引导序列,得到第五数据;根据奇偶校验矩阵及校验位信息对第五数据进行纠错。本公开还提供一种用于存储器的纠错装置、一种电子设备及介质。本公开通过引入引导序列,以及利用奇偶校验矩阵和生成的校验位信息进行纠错,提高了存储器的纠错能力。
搜索关键词: 用于 存储器 纠错 方法 装置 电子设备 介质
【主权项】:
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