[发明专利]一种芯片物理指纹可靠性评估方法、装置、设备及介质

摘要

本发明公开了一种芯片物理指纹可靠性评估方法、装置、设备及介质，该方法通过计算第一汉明距离数列Hs，得到第一均值ΔHs和第一方差值VHs，通过计算第二汉明距离数列Hd，得到第二均值ΔHd和第二方差值VHd，再根据待评估芯片的物理指纹的响应bit数Hmax和正态分布修正值σ，获取指纹库可靠性因子R。然后通过预设认证可靠性权值α、认证错误接受率的平均值FA和认证错误拒绝率的平均值FR进行计算，获取认证错误特征值ER，并选取最小的认证错误特征值ER作为最小认证错误特征值ERmin。最后，基于指纹库可靠性因子R和最小认证错误特征值ERmin对待评估芯片物理指纹进行评估，获取评估结果，以实现对芯片物理指纹的可靠性进行量化评估，获取准确的评估结果。