[发明专利]一种芯片物理指纹可靠性评估方法、装置、设备及介质

权利要求书

1.一种芯片物理指纹可靠性评估方法，其特征在于，包括：

计算待评估芯片物理指纹中由同一芯片对同一激励产生的响应的第一汉明距离数列H_s和待评估芯片物理指纹中由不同芯片对同一激励产生的响应的第二汉明距离数列H_d；

基于所述第一汉明距离数列H_s计算第一均值ΔH_s和第一方差值VH_s；基于所述第二汉明距离数列H_d计算第二均值ΔH_d和第二方差值VH_d；

获取所述待评估芯片物理指纹的响应bit数H_max和正态分布修正值σ；

调用指纹库可靠性因子计算公式，对所述第一均值ΔH_s、所述第一方差值VH_s、所述第二均值ΔH_d、所述第二方差值VH_d、所述响应bit数H_max和所述正态分布修正值σ进行计算，获取指纹库可靠性因子R；所述指纹库指存储所有待评估芯片物理指纹的数据库；

获取预设认证可靠性权值α，并计算认证错误接受率的平均值FA和认证错误拒绝率的平均值FR；

调用认证错误特征值计算公式，对所述认证错误接受率的平均值FA、认证错误拒绝率的平均值FR和所述预设认证可靠性权值α进行计算，获取认证错误特征值ER；

选取最小的所述认证错误特征值ER作为最小认证错误特征值ER_min；

基于所述指纹库可靠性因子R和所述最小认证错误特征值ER_min对所述待评估芯片物理指纹进行评估，获取评估结果；

其中，所述计算认证错误接受率的平均值FA和认证错误拒绝率的平均值FR，包括：

通过错误接受率计算公式计算所有待评估芯片物理指纹的错误接受率FA_i,j，所述错误接受率计算公式具体为：

其中，P指待评估芯片物理指纹对应的芯片的个数，K指每条激励对每个待评估芯片物理指纹对应的芯片测试的次数，A指认证阈值，HD(r_m,i,j,r_n,i',j)指第i个待评估芯片物理指纹对应的芯片的第j次激励的第m次响应和第i'个待评估芯片物理指纹对应的芯片的第j次激励的第n次响应的汉明距离，Com(A,HD(r_m,i,j,r_n,i',j))函数具体为：

通过错误接受率的平均值计算公式对所述错误接受率FA_i,j进行计算，获取认证错误接受率的平均值FA，所述错误接受率的平均值计算公式具体为：

其中，Q指激励的个数；

通过错误拒绝率计算公式计算所有待评估芯片物理指纹的错误拒绝率FR_i,j，所述错误拒绝率计算公式具体为：

其中，K指每条激励对每个待评估芯片物理指纹对应的芯片测试的次数，A指认证阈值，HD(r_m,i,j,r_n,i,j)指第i个待评估芯片物理指纹对应的芯片的第j次激励的第m次响应和第n次响应的汉明距离；

通过错误拒绝率的平均值计算公式对所述错误接受率FR_i,j进行计算，获取认证错误接受率的平均值FR，所述错误拒绝率的平均值计算公式具体为：

其中，Q指激励的个数。

2.根据权利要求1所述的芯片物理指纹可靠性评估方法，其特征在于，所述指纹库可靠性因子计算公式具体为：

其中，ΔH_s指第一汉明距离数列H_s对应的第一均值，VH_s指第一汉明距离数列H_s对应的第一方差值，ΔH_d指第二汉明距离数列H_d对应的第二均值，VH_d指第二汉明距离数列H_d对应的第二方差值。