[发明专利]一种基于量子点与DNA折纸纳米共组装结构的超分辨显微标尺在审
| 申请号： | 202010976500.4 | 申请日： | 2020-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN112129788A | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 阮刚;李喆;黄振立;陈彦名;陈小星;匡伟兵 | 申请（专利权）人： | 南京大学 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/20;G01N21/64;G01B9/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 210023 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明说明一种基于量子点与DNA折纸纳米共组装结构的超分辨显微标尺，属于纳米材料技术领域，用于超高分辨率荧光显微镜系统分辨率的标定与校准。本发明通过利用量子点(2)和DNA单链(3)偶连，再修饰到DNA折纸(1)(三角形为例)的固定位点，形成固定距离的纳米标尺，解决超分辨显微缺高精度标尺验证所获超分辨图像准确性的问题。通过超分辨技术突破光的衍射极限，根据同一DNA折纸结构上量子点之间的固定距离(20‑200nm)验证所获超分辨图像的准确性；本发明提供的量子点与DNA折纸纳米共组装结构的超分辨显微标尺用于表征定位超分辨单分子定位显微成像技术(SMLM)成像分辨率，具备亮度高、稳定、重复使用、易于做不同尺寸的优势。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 量子 dna 折纸 纳米 组装 结构 分辨 显微 标尺 | ||
【主权项】：
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