[发明专利]一种基于量子点与DNA折纸纳米共组装结构的超分辨显微标尺在审
| 申请号： | 202010976500.4 | 申请日： | 2020-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN112129788A | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 阮刚;李喆;黄振立;陈彦名;陈小星;匡伟兵 | 申请（专利权）人： | 南京大学 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/20;G01N21/64;G01B9/04 |
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| 地址： | 210023 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 量子 dna 折纸 纳米 组装 结构 分辨 显微 标尺 | ||
1.一种基于量子点与DNA折纸纳米共组装结构的超分辨显微标尺，其特征在于，超分辨显微标尺由量子点和DNA折纸共组装技术开发。
2.根据权利要求1所述的一种基于量子点与DNA折纸纳米共组装结构的超分辨显微标尺，其特征在于，开发过程包括以下步骤：
(1)DNA折纸的设计和制备：设计特定形状的DNA折纸，比如三角形、矩形等，在DNA折纸的多个特定位置设计可以偶连量子点的位点，比如伸出来的一段或几段核酸单链，最后通过核酸长链和核酸短链组装成特定形状的DNA折纸。
(2)量子点表面和核酸互补短链的修饰：通过生物素-亲和素作用或者点击化学的方法在量子点表面修饰核酸互补短链。
(3)量子点与DNA折纸纳米共组装：量子点表面的核酸互补短链通过碱基互补配对的作用偶连在DNA折纸的特定位置。
3.根据权利要求1所述的一种基于量子点与DNA折纸纳米共组装结构的超分辨显微标尺，其特征在于，DNA折纸的形状可以设计成特定形状，比如三角形、矩形等。
4.根据权利要求1所述的一种基于量子点与DNA折纸纳米共组装结构的超分辨显微标尺，其特征在于，一个DNA折纸上有多个特定位置的量子点共组装。
5.根据权利要求1所述的一种基于量子点与DNA折纸纳米共组装结构的超分辨显微标尺，其特征在于，一个DNA折纸上共组装量子点之间的距离是固定且可以设计的。
6.根据权利要求1所述的一种基于量子点与DNA折纸纳米共组装结构的超分辨显微标尺，其特征在于，一个DNA折纸上共组装量子点之间的距离为20-200nm。
7.根据权利要求1所述的一种基于量子点与DNA折纸纳米共组装结构的超分辨显微标尺，其特征在于，用于表征定位单分子定位显微成像技术SMLM(Single MoleculeLocalization Microscopy)成像分辨率。
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