[发明专利]基于空间调制的星体角位置强度关联测量系统及方法有效
| 申请号： | 202010952170.5 | 申请日： | 2020-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN112229397B | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 尹少齐;喻虹;谈志杰;韩申生 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01C21/02 | 分类号： | G01C21/02;G01C21/20;G01C1/00 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于空间调制的星体角位置强度关联测量系统及方法，其构成包括待测脉冲星、第一金属孔屏、第一单像素探测器、第一固定平台、第二金属孔屏、第二单像素探测器、第二固定平台和计算机，脉冲星射线源发出的光经过第一金属孔屏和第一单像素探测器作为光路A，脉冲星射线源发出的光经过第二金属孔屏和第二单像素探测器作为光路B。本发明是对两光路进行关联运算，其中光路A不动，光路B旋转。当使得两光路的二阶相关度最大时，记录下此刻两金属孔屏的角度信息，利用基于空间调制的星体角位置强度关联测量系统的几何关系，最终得到两光路的待测张角信息。本发明基于光场高阶关联特性，具备对待测目标星体实现高精度角位置测量的优势。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 空间 调制 星体 位置 强度 关联 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所，未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010952170.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
