[发明专利]基于空间调制的星体角位置强度关联测量系统及方法

权利要求书

1.一种基于空间调制的星体角位置强度关联测量系统，特征在于其构成包括第一金属孔屏(2)、第一单像素探测器(3)、第二金属孔屏(4)、第二单像素探测器(5)、计算机(6)、第一固定平台(7)和第二固定平台(8)；

待测脉冲星(1)发出的光经过所述的第一金属孔屏(2)和所述的第一单像素探测器(3)作为光路A；

所述的待测脉冲星(1)发出的光经过所述的第二金属孔屏(4)和所述的第二单像素探测器(5)作为光路B；

所述的第一金属孔屏(2)到所述的第一单像素探测器(3)的距离与所述的第二金属孔屏(4)到所述的第二单像素探测器(5)的距离相等，距离为d；所述的第一金属孔屏(2)与所述的第一单像素探测器(3)均固定在所述的第一固定平台(7)上，所述的第二金属孔屏(4)与所述的第二单像素探测器(5)均固定在所述的第二固定平台(8)上；

所述的第一金属孔屏(2)和所述的第二金属孔屏(4)具有相同的空间分布；

所述的第二金属孔屏(4)的横向中心轴为M₂N₂；

所述的计算机(6)的输入端与所述的第一单像素探测器(3)和所述的第二单像素探测器(5)的输出端相连，所述的计算机(6)具有对采集到的光强序列进行关联运算的程序，具体包括以下步骤：

1选择单像素探测器，满足如下公式：

式中，l为单像素探测器的横向直径，λ为待测脉冲星(1)发射的射线的波长，d为金属孔屏到单像素探测器的距离，a为所述的金属孔屏的横向长度；

调节所述的第一金属孔屏(2)、所述的第一单像素探测器(3)与所述的待测脉冲星(1)同轴，调节所述的第二金属孔屏(4)、所述的第二单像素探测器(5)与所述的待测脉冲星(1)同轴，且光路A中所述的第一金属孔屏(2)、所述的第一单像素探测器(3)与光路B中所述的第二金属孔屏(4)、所述的第二单像素探测器(5)不同轴；

2所述的第一单像素探测器(3)和所述的第二单像素探测器(5)同时曝光k次，分别获得在起始角度θ₀下光路A起始光强序列和光路B起始光强序列并将光路B起始光强序列和光路A起始光强序列进行关联运算，得到在起始角度下关联成像序列中的强度关联分布

3计算第m次，m＝0,N，N为旋转的总次数，光路B光强序列的平均值计算光路A光强序列的平均值计算光路A光强序列和光路B光强序列的强度关联分布平均值

4计算二阶强度关联值，公式如下：

5将第二固定平台(8)绕第二金属孔屏(4)的横向中心轴M₂N₂旋转下一角度θ后，对所述的第一单像素探测器(3)和所述的第二单像素探测器(5)进行k次曝光，分别记录下第m次旋转后，θ_m＝θ₀+mθ，光路A第m次光强序列和光路B第m次光强序列并将光路B第m次光强序列和光路A第m次光强序列进行关联运算，得到在第m次角度下关联成像序列中的强度关联分布

6重复步骤3、4、5，获得多组二阶强度关联值，直到出现二阶强度关联值的峰值为止，记录下此刻第一金属孔屏在笛卡尔坐标系下的角度ξ₁和第二金属孔屏在笛卡尔坐标系下的角度ξ₂；

7通过基于空间调制的星体角位置强度关联测量系统的几何关系，两光路的待测张角满足以下关系：

Δξ＝|ξ₁-ξ₂|

其中，Δξ代表待测脉冲星发射的两束光的张角。

2.根据权利要求1所述的基于空间调制的星体角位置强度关联测量系统，其特征在于所述的待测脉冲星(1)发射X射线。