[发明专利]一种反射面天线微波发射率测试方法及其测试系统在审
| 申请号： | 202010877796.4 | 申请日： | 2020-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN111948617A | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 姜丽菲;李秀伟;徐红新;何嘉恺;周仁杰;陈卫英;潘莉 | 申请（专利权）人： | 上海航天电子通讯设备研究所 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及航天微波无源遥感辐射计技术领域，提供了一种反射面天线微波发射率测试方法及其测试系统，其方法包括：通过反射面天线接收天空辐射信号；通过喇叭天线，将反射面天线接收的天空辐射信号与反射面天线自身的天线热辐射信号收集起来；通过微波辐射计，将喇叭天线收集的辐射信号转换成电压信号；通过数据采集单元，采集微波辐射计输出的电压以及反射面天线的温度数据；改变反射面天线的物理温度，采集在不同物理温度下的微波辐射计的输出电压，根据微波遥感理论推算得到反射面天线的微波发射率。基于被动微波遥感理论，通过改变反射面天线物理温度，测量微波辐射计输出变化，间接测试反射面天线发射率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 反射 天线 微波 发射 测试 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
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