[发明专利]一种反射面天线微波发射率测试方法及其测试系统

权利要求书

1.一种反射面天线微波发射率测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

通过反射面天线接收天空辐射信号；

通过喇叭天线，将所述反射面天线接收的所述天空辐射信号与所述反射面天线自身的天线热辐射信号收集起来；

通过微波辐射计，将所述喇叭天线收集的辐射信号转换成电压信号；

通过数据采集单元，采集所述微波辐射计输出的电压以及所述反射面天线的温度数据；

改变所述反射面天线的物理温度，采集在不同物理温度下的所述微波辐射计的输出电压，根据微波遥感理论推算得到所述反射面天线的微波发射率。

2.根据权利要求1所述的反射面天线微波发射率测试方法，其特征在于，改变所述反射面天线的物理温度，采集在不同物理温度下的所述微波辐射计的输出电压，根据微波遥感理论推算得到所述反射面天线的微波发射率，具体为：

(1)测量所述反射面天线的物理温度为T_P1时，所述数据采集单元采集到的所述微波辐射计的输出电压V₁，根据微波遥感理论得到：

V₁＝KGB(T₁+T_sys)

T₁＝n[(1-ε)T_SKY+εT_P1]+(1-n)T_SKY

其中，K为波尔兹曼常数；

G为所述微波辐射计各通道链路净增益，是所述微波辐射计的固有参数；

B为所述微波辐射计各通道带宽，单位Hz，是所述微波辐射计固有参数；

T₁为所述喇叭天线接收到的辐射亮温，单位K；

T_sys为所述微波辐射计噪声温度，单位K；

n为所述反射面天线的截获效率，定义为所述反射面天线所截获能量占所述喇叭天线辐射能量之比；

T_SKY为天空辐射亮温，单位K；

ε为所述反射面天线的微波发射率；

(2)测量所述反射面天线的物理温度为T_P2时，所述数据采集单元采集到的所述微波辐射计的输出电压V₂，根据微波遥感理论得到：

V₂＝KGB(T₂+T_sys)

T₂＝n[(1-ε)T_SKY+εT_P2]+(1-n)T_SKY

(3)根据上述测试数据，得到所述反射面天线的微波发射率为：

3.根据权利要求1所述的反射面天线微波发射率测试方法，其特征在于，还包括：通过金属斗，屏蔽除所述天空辐射信号之外的其他场景辐射。

4.一种应用权利要求1-3所述的反射面天线微波发射率测试方法进行测试的反射面天线微波发射率测试系统，其特征在于，包括：反射面天线、喇叭天线、微波辐射计、数据采集单元；

所述反射面天线，用于接收天空辐射信号；

所述喇叭天线，用于收集所述反射面天线接收的所述天空辐射信号与所述反射面天线自身的天线热辐射信号；

所述微波辐射计，用于将所述喇叭天线收集的辐射信号转换成电压信号；

所述数据采集单元，用于采集所述微波辐射计输出的电压以及所述反射面天线的温度数据，进而通过采集的不同物理温度下的所述微波辐射计的输出电压，根据微波遥感理论推算得到所述反射面天线的微波发射率。

5.根据权利要求4所述的反射面天线微波发射率测试系统，其特征在于，还包括：金属斗、反射面天线加热单元、供电单元；

所述金属斗，用于屏蔽除所述天空辐射信号之外的其他场景的辐射信号；

所述反射面天线加热单元，用于对所述反射面天线进行加热，改变所述反射面天线的物理温度，从而改变所述反射面天线自身的天线热辐射；

所述供电单元，用于对所述微波辐射计和所述反射面天线加热单元进行供电。