[发明专利]一种InGaN/(In)GaN量子阱结构及提高量子阱发光均匀性的方法在审

专利信息
申请号: 202010863919.9 申请日: 2020-08-25
公开(公告)号: CN111785817A 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 赵德刚;梁锋;王泓江 申请(专利权)人: 北京蓝海创芯智能科技有限公司
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 南京智造力知识产权代理有限公司 32382 代理人: 张明明
地址: 100089 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种InGaN量子阱结构及提高InGaN量子阱发光均匀性的方法,属于氮化镓半导体器件制造与外延生长领域。本发明在n型GaN层上生长InGaN量子阱,然后通入氢气处理阱层的生长,具体的处理过程为:生长GaN盖层后,关闭镓源与铟源、打开氨气,通入氢气,去除富集于阱层表面的铟,接着关闭氢气,并保持时间t进行赶氢,最后打开镓源生长GaN垒层。本发明采用氢气处理阱层替代传统升温退火处理阱层,可显著提高InGaN量子阱发光均匀性,简单易行。
搜索关键词: 一种 ingan in gan 量子 结构 提高 发光 均匀 方法
【主权项】:
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