[发明专利]一种InGaN/(In)GaN量子阱结构及提高量子阱发光均匀性的方法在审
申请号: | 202010863919.9 | 申请日: | 2020-08-25 |
公开(公告)号: | CN111785817A | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 赵德刚;梁锋;王泓江 | 申请(专利权)人: | 北京蓝海创芯智能科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/06 | 分类号: | H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00 |
代理公司: | 南京智造力知识产权代理有限公司 32382 | 代理人: | 张明明 |
地址: | 100089 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种InGaN量子阱结构及提高InGaN量子阱发光均匀性的方法,属于氮化镓半导体器件制造与外延生长领域。本发明在n型GaN层上生长InGaN量子阱,然后通入氢气处理阱层的生长,具体的处理过程为:生长GaN盖层后,关闭镓源与铟源、打开氨气,通入氢气,去除富集于阱层表面的铟,接着关闭氢气,并保持时间t进行赶氢,最后打开镓源生长GaN垒层。本发明采用氢气处理阱层替代传统升温退火处理阱层,可显著提高InGaN量子阱发光均匀性,简单易行。 | ||
搜索关键词: | 一种 ingan in gan 量子 结构 提高 发光 均匀 方法 | ||
【主权项】:
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