[发明专利]一种对磁光阱垂向位置的漂移标定及反馈锁定方法有效

专利信息
申请号: 202010829234.2 申请日: 2020-08-18
公开(公告)号: CN111947705B 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 朱磊;仲嘉琪;陈曦;张小伟;吕伟;刘武;罗军;王谨;詹明生 申请(专利权)人: 中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 武汉宇晨专利事务所 42001 代理人: 李鹏;王敏锋
地址: 430071 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请公开了一种对磁光阱垂向位置的漂移标定及反馈锁定方法,适用于上抛型和自由下落型冷原子干涉仪。冷原子干涉仪包括有一个或者多个冷原子干涉物理探头,每一个冷原子干涉物理探头包括有一个磁光阱(磁光阱包括有一对反向亥姆赫兹线圈、六束冷却激光)、一对偏置磁场线圈、一束探测光和一个探测器。本发明公开了一种根据TOF信号的信息来实现对磁光阱的囚禁区的垂向位置的漂移标定,不需要增加其他复杂的器件,然后通过反馈偏置磁场的电流来实现对磁光阱的囚禁区的垂向位置的反馈锁定,从而解决实验上由磁光阱的囚禁区的垂向位置的漂移标定带来的干涉条纹对比度降低的问题,有助于提高干涉条纹对比度的长期稳定性。
搜索关键词: 一种 磁光阱垂 位置 漂移 标定 反馈 锁定 方法
【主权项】:
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