[发明专利]一种对磁光阱垂向位置的漂移标定及反馈锁定方法有效
| 申请号: | 202010829234.2 | 申请日: | 2020-08-18 |
| 公开(公告)号: | CN111947705B | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
| 发明(设计)人: | 朱磊;仲嘉琪;陈曦;张小伟;吕伟;刘武;罗军;王谨;詹明生 | 申请(专利权)人: | 中国科学院精密测量科学与技术创新研究院 |
| 主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
| 代理公司: | 武汉宇晨专利事务所 42001 | 代理人: | 李鹏;王敏锋 |
| 地址: | 430071 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 磁光阱垂 位置 漂移 标定 反馈 锁定 方法 | ||
1.一种对磁光阱垂向位置的漂移标定及反馈锁定方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,选择合适的探测光的时间脉冲宽度tdet;
步骤2,在给定采样率条件下,数据采集卡采集时间飞行信号,时间飞行信号的数据点总数为Ptotal;
步骤3,在第n次原子干涉仪实验,时间飞行信号拟合峰对应的横坐标的值为Pn,原子云到达探测光的时间的变化值Δt=C(Pn-P0),C=tdet/Ptotal,n为自然数,P0为初始原子干涉仪实验下,时间飞行信号拟合峰对应的横坐标的值;
步骤4,计算原子云到达探测区域时在垂直方向上的速度vz;
步骤5,计算磁光阱的囚禁区的垂向位置漂移SzMOT=C(Pn-P0)vz;
步骤6、测量用于调节磁光阱的囚禁区的垂向位置的偏置磁场线圈的电流Ibias;
步骤7、计算比例系数f=SzMOT/Ibias,对多次原子干涉仪实验获得的比例系数求平均获得拟合系数F;
步骤8,计算下一次原子干涉仪实验中偏置磁场线圈的电流为Ibias减去反馈电流ΔIbias,ΔIbias=(Pn-P0)×F。
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