[发明专利]一种对磁光阱垂向位置的漂移标定及反馈锁定方法有效

专利信息
申请号: 202010829234.2 申请日: 2020-08-18
公开(公告)号: CN111947705B 公开(公告)日: 2021-05-11
发明(设计)人: 朱磊;仲嘉琪;陈曦;张小伟;吕伟;刘武;罗军;王谨;詹明生 申请(专利权)人: 中国科学院精密测量科学与技术创新研究院
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 武汉宇晨专利事务所 42001 代理人: 李鹏;王敏锋
地址: 430071 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁光阱垂 位置 漂移 标定 反馈 锁定 方法
【权利要求书】:

1.一种对磁光阱垂向位置的漂移标定及反馈锁定方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1,选择合适的探测光的时间脉冲宽度tdet

步骤2,在给定采样率条件下,数据采集卡采集时间飞行信号,时间飞行信号的数据点总数为Ptotal

步骤3,在第n次原子干涉仪实验,时间飞行信号拟合峰对应的横坐标的值为Pn,原子云到达探测光的时间的变化值Δt=C(Pn-P0),C=tdet/Ptotal,n为自然数,P0为初始原子干涉仪实验下,时间飞行信号拟合峰对应的横坐标的值;

步骤4,计算原子云到达探测区域时在垂直方向上的速度vz

步骤5,计算磁光阱的囚禁区的垂向位置漂移SzMOT=C(Pn-P0)vz

步骤6、测量用于调节磁光阱的囚禁区的垂向位置的偏置磁场线圈的电流Ibias

步骤7、计算比例系数f=SzMOT/Ibias,对多次原子干涉仪实验获得的比例系数求平均获得拟合系数F;

步骤8,计算下一次原子干涉仪实验中偏置磁场线圈的电流为Ibias减去反馈电流ΔIbias,ΔIbias=(Pn-P0)×F。

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