[发明专利]一种总α和总β放射性测量制样方法和装置在审
申请号: | 202010714122.2 | 申请日: | 2020-07-22 |
公开(公告)号: | CN111624076A | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 欧频;郑雪婷;李昱丞;黄丽芳;俞添虹 | 申请(专利权)人: | 欧频 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01N1/38;G01T1/167 |
代理公司: | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人: | 何志欣 |
地址: | 516008 广东省惠州市惠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种总α和总β放射性测量制样方法和装置,包括:步骤S1:在U型筛中,研磨球与所述U型筛彼此契合且能够相对转动而对浓缩或处理成的待测样品固体施加碾压力,基于所述碾压力,浓缩或处理成的待测样品固体研磨成待测灰样;步骤S2:所述待测灰样中加入无水乙醇后在样品盘中搅拌形成糊状,步骤S3:转动样品盘,与所述样品盘相互平行的刮片按照两者的高度能够限定出所述待测样品源的制成厚度的方式将所述待测灰样制成厚度均匀平整的所述待测样品源。 | ||
搜索关键词: | 一种 放射性 测量 方法 装置 | ||
【主权项】:
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