[发明专利]一种总α和总β放射性测量制样方法和装置

权利要求书

1.一种总α和总β放射性测量制样方法，包括：

将浓缩或处理成的待测样品固体研磨成目数符合要求的待测灰样，

将待测灰样制备成厚度相对均匀平整的待测样品源，

其特征在于，

步骤S1：在U型筛(100f)中，研磨球(100g)与所述U型筛(100f)彼此契合且能够相对转动而对浓缩或处理成的待测样品固体施加碾压力，基于所述碾压力，浓缩或处理成的待测样品固体研磨成待测灰样；

步骤S2：所述待测灰样中加入无水乙醇后在样品盘(200a)中搅拌形成糊状，

步骤S3：转动样品盘(200a)，与所述样品盘(200a)相互平行的刮片(200b)按照两者的高度能够限定出所述待测样品源的制成厚度的方式将所述待测灰样制成所述待测样品源。

2.根据权利要求1所述的制样方法，其特征在于，待测灰样大量集中放置于所述样品盘(200a)的中部区域，因而在样品盘(200a)转动时，待测灰样能够由刚性刮丝(200b-1)的刮丝加厚区(200b-1d)带动旋转，以使得所述待测灰样基于离心力和所述刮丝加厚区(200b-1d)的刮档作用而被刮丝加厚区(200b-1d)带动为向刮丝侧翼区(200b-1b)两侧蠕动。

3.根据权利要求1或2所述的制样方法，其特征在于，随着样品盘(200a)转动，样品盘(200a)中部区域的待测灰样逐步地在离心力和刮丝加厚区(200b-1d)的刮档作用下蠕动至刮丝侧翼区(200b-1b)，并在刮底(200b-1a)的平整作用下逐步地摊均匀。

4.根据权利要求2所述的制样方法，其特征在于，所述刚性刮丝(200b-1)的两端分别经由至少两条斜拉丝(200b-2)连接至内螺旋杆(200c-1)，

其中，所述斜拉丝(200b-2)的抗扭刚度大于所述刚性刮丝(200b-1)的抗扭刚度，而使得所述刚性刮丝(200b-1)能够在所述样品盘(200a)转动的过程中按照可控地晃动的方式将所述待测灰样铺平。

5.根据权利要求4所述的制样方法，其特征在于，所述内螺旋杆(200c-1)螺旋连接外螺旋杆(200c-2)，所述外螺旋杆(200c-2)与外固定筒(200c-3)螺旋连接，

其中，所述内螺旋杆(200c-1)的螺距小于所述外螺旋杆(200c-2)的螺距，而使得所述刮片(200b)与所述样品盘(200a)之间的高度至少能够以先粗调而后细调的方式确定。

6.根据权利要求5所述的制样方法，其特征在于，所述内螺旋杆(200c-1)设置有传感器，所述样品盘(200a)的转动速度能够基于所述传感器的测量信号确定。

7.根据权利要求6所述的制样方法，其特征在于，在步骤S3中，使用水平气泡仪(200g)检查所述样品盘(200a)是否处于水平状态。

8.根据权利要求7所述的制样方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤S4，开启红外灯(300)将制成厚度均匀平整的所述待测样品源烘干。

9.一种总α和总β放射性测量制样装置，至少包括U型筛(100f)、研磨球(100g)、样品盘(200a)和刮片(200b)，

其特征在于，

在U型筛(100f)中，研磨球(100g)与所述U型筛(100f)彼此契合且能够相对转动而对浓缩或处理成的待测样品固体施加碾压力，基于所述碾压力，浓缩或处理成的待测样品固体研磨成待测灰样；

所述待测灰样中加入无水乙醇后在样品盘(200a)中搅拌形成糊状，

转动样品盘(200a)，与所述样品盘(200a)相互平行的刮片(200b)按照两者的高度能够限定出所述待测样品源的制成厚度的方式将所述待测灰样制成所述待测样品源。

10.根据权利要求9所述的制样装置，其特征在于，待测灰样大量集中放置于所述样品盘(200a)的中部区域，因而在样品盘(200a)转动时，待测灰样能够由刚性刮丝(200b-1)的刮丝加厚区(200b-1d)带动旋转，以使得所述待测灰样基于离心力和所述刮丝加厚区(200b-1d)的刮档作用而被刮丝加厚区(200b-1d)带动为向刮丝侧翼区(200b-1b)两侧蠕动。