[发明专利]在片S参数测量系统校准方法及装置有效
| 申请号： | 202010682832.1 | 申请日： | 2020-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN111983538B | 公开（公告）日： | 2023-03-03 |
| 发明（设计）人： | 王一帮;吴爱华;梁法国;刘晨;孔令甲;栾鹏;霍晔;孙静 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 秦敏华 |
| 地址： | 050051 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种在片S参数测量系统校准方法及装置，该方法包括：在扩频模块的波导/同轴端未连接微波探针时，对在片S参数测量系统进行初次校准，得到第一误差模型；在扩频模块的波导/同轴端连接微波探针后，扩频模块的波导/同轴端面与微波探针端面形成互易的四端口网络，基于所述互易的四端口网络构建16‑term误差模型，并对16‑term误差模型中的串扰误差项进行简化，基于串扰误差项简化后的16‑term误差模型对在片S参数测量系统的测量精度进行校准。本发明提供的在片S参数测量系统校准方法及装置能够有效表征串扰误差量，从而对在片S参数测量系统进行有效校准，进而提高在片S参数测量系统在高频段的测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 参数 测量 系统 校准 方法 装置 | ||
【主权项】：
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