[发明专利]一种用DVC变形算法来评价CT尺寸测量精度的方法有效
| 申请号： | 202010639368.8 | 申请日： | 2020-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN111780695B | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 万克树;齐龙强 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01B15/00 | 分类号： | G01B15/00;G01B15/06;G06T17/00 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 李倩 |
| 地址： | 211102 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用DVC变形算法来评价CT尺寸测量精度的方法，具体为：根据要进行CT尺寸测量的待测样品的材质和结构来确定用于尺寸测量精度评价的标准样品；在确定的CT测试条件下，用CT设备对标准样品连续进行两次扫描，获得相同测试条件下的两套三维CT图像数据；对获得的两套三维CT图像数据进行DVC计算，获得三维全场变形数据，变形数据中三个方向的应变，记为ex，ey，ez；对获得的全场变形数据进行统计分析，得到各个应变的均值和标准差，CT尺寸测量的精度与标准差呈负相关，即标准差越小，测量精度越高；标准差越大，测量精度越低。本发明方法能够量化各个影响因素对CT尺寸测量造成的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 dvc 变形 算法 评价 ct 尺寸 测量 精度 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学，未经东南大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010639368.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
