[发明专利]一种用DVC变形算法来评价CT尺寸测量精度的方法有效
| 申请号： | 202010639368.8 | 申请日： | 2020-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN111780695B | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 万克树;齐龙强 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01B15/00 | 分类号： | G01B15/00;G01B15/06;G06T17/00 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 李倩 |
| 地址： | 211102 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 dvc 变形 算法 评价 ct 尺寸 测量 精度 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种用DVC变形算法来评价CT尺寸测量精度的方法，其特征在于，具体包括如下步骤：
(1)根据要进行CT尺寸测量的待测样品的材质和结构来确定用于尺寸测量精度评价的标准样品；
(2)在确定的CT测试条件下，用CT设备对标准样品连续进行两次扫描，获得相同测试条件下的两套三维CT图像数据；
(3)对步骤(2)获得的两套三维CT图像数据进行DVC计算，获得三维全场变形数据，变形数据中三个方向的应变，记为ex，ey，ez；
(4)对步骤(3)获得的全场变形数据进行统计分析，得到各个应变的均值和标准差，CT尺寸测量的精度与标准差呈负相关，标准差越小，测量精度越高；标准差越大，测量精度越低。
2.根据权利要求1所述的用DVC变形算法来评价CT尺寸测量精度的方法，其特征在于：步骤(1)中，根据待测样品能否用于DVC计算来决定标准样品的选取，若待测样品的材质和结构能够用于DVC计算，则标准样品即为待测样品本身，若待测样品的材质和结构单一，无法直接用于DVC计算，则采用泡沫材料或3D打印材料制作一个标准样品。
3.根据权利要求1所述的用DVC变形算法来评价CT尺寸测量精度的方法，其特征在于：步骤(2)中，CT设备包括专用于CT尺寸测量的专用CT，或医用CT、工业CT和实验室CT中的一种。
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