[发明专利]测距装置以及外部光照度测定方法在审
| 申请号： | 202010574965.7 | 申请日： | 2020-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN112130159A | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 中村稔;高桥祐辉;渡边淳 | 申请（专利权）人： | 发那科株式会社 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S17/894;G01J1/04;G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;曹鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测距装置以及外部光照度测定方法。测距装置具备：能够发出向物体照射的测定光的发光部；经由使与测定光相同波段的光透过的光学滤光器从物体接受光的受光部；基于在相对于测定光的发光定时延迟了预定相位的多个定时分别蓄积的各电荷量来计算到物体的距离的距离计算部；基于受光部取得的电荷量和物体的反射率，计算在光学滤波器的分光灵敏度下照射物体的外部光照度的外部光照度计算部。 | ||
| 搜索关键词： | 测距 装置 以及 外部 光照度 测定 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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