[发明专利]测距装置以及外部光照度测定方法在审
| 申请号: | 202010574965.7 | 申请日: | 2020-06-22 |
| 公开(公告)号: | CN112130159A | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
| 发明(设计)人: | 中村稔;高桥祐辉;渡边淳 | 申请(专利权)人: | 发那科株式会社 |
| 主分类号: | G01S17/08 | 分类号: | G01S17/08;G01S17/894;G01J1/04;G01J1/42 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;曹鑫 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测距 装置 以及 外部 光照度 测定 方法 | ||
1.一种测距装置,其特征在于,具备:
发光部,其能够发出向物体照射的测定光;
受光部,其经由光学滤波器从所述物体接受光,该光学滤波器使与所述测定光相同波段的光透射;
距离计算部,其基于在多个定时分别蓄积与接受的所述光对应的电荷而得的各电荷量,计算到所述物体的距离,所述多个定时为相对于所述测定光的发光定时延迟了预定相位的定时;以及
外部光照度计算部,其基于由所述受光部取得的电荷量和所述物体的反射率,计算在所述光学滤波器的分光灵敏度下照射所述物体的外部光照度。
2.根据权利要求1所述的测距装置,其特征在于,
透射所述光学滤波器的光是近红外光。
3.根据权利要求1或2所述的测距装置,其特征在于,
基于计算出的到所述物体的距离和根据所述各电荷量求出的测定光的反射亮度,计算所述物体的反射率。
4.根据权利要求1或2所述的测距装置,其特征在于,
所述物体的反射率是已知的。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的测距装置,其特征在于,
基于根据所述各电荷量求出的外部光的反射亮度和所述物体的反射率来计算所述外部光照度。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测距装置,其特征在于,
该测距装置还具备输出所述外部光照度的输出部。
7.根据权利要求6所述的测距装置,其特征在于,
所述受光部具备二维排列的多个像素,所述外部光照度计算部按每个像素计算外部光照度,所述输出部输出外部光照度图像。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的测距装置,其特征在于,
该测距装置还具备警告部,其在所述外部光照度为阈值以上的情况下输出警告信号。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的测距装置,其特征在于,
该测距装置还具备图像输出部,其输出对所述外部光照度为阈值以上的像素进行强调显示而得的外部光照度强调图像。
10.一种外部光照度测量方法,其特征在于,包括:
选择是否发出向物体照射的测定光的步骤;
经由光学滤波器从所述物体接受光的步骤,该光学滤波器使与所述测定光相同波段的光透射;以及
根据与接受的所述光对应的电荷量和所述物体的反射率,计算在所述光学滤波器的分光灵敏度下照射所述物体的外部光照度的步骤。
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