[发明专利]一种超短脉冲激光能量测量方法及系统有效
| 申请号： | 202010573578.1 | 申请日： | 2020-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN111693161B | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 洪伟;卢峰;何运孝;杨雷;孙立;黄征;郭仪;李纲;谢娜;蒋东镔;范伟;刘洪杰;巫殷忠;黄小军;周凯南 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 崔玥 |
| 地址： | 621000 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种超短脉冲激光能量测量方法及系统。所述方法包括确定待测超短超强激光的光斑；根据所述光斑确定辐射变色膜的尺寸；获取所述辐射变色膜的初始的空间二维分布的光密度值；利用所述待测超短超强激光对所述辐射变色膜进行曝光；获取曝光后的辐射变色膜的曝光后的空间二维分布的光密度值；利用所述初始的空间二维分布的光密度值和所述曝光后的空间二维分布的光密度值确定所述辐射变色膜曝光前后的净光密度值；对所述净光密度值进行标定，得到标定的拟合曲线；利用所述标定的拟合曲线确定照射到辐射变色膜上的所述待测超短超强激光的能量。本发明不仅能够测量输出的超短脉冲激光总能量，还能够测量超短脉冲激光能量的空间分布。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超短 脉冲 激光 能量 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心，未经中国工程物理研究院激光聚变研究中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010573578.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：导叶开度不均匀检测方法
- 下一篇：一种无废料划切机构和划切方法
