[发明专利]一种超短脉冲激光能量测量方法及系统有效
| 申请号： | 202010573578.1 | 申请日： | 2020-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN111693161B | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 洪伟;卢峰;何运孝;杨雷;孙立;黄征;郭仪;李纲;谢娜;蒋东镔;范伟;刘洪杰;巫殷忠;黄小军;周凯南 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 崔玥 |
| 地址： | 621000 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 超短 脉冲 激光 能量 测量方法 系统 | ||
1.一种超短脉冲激光能量测量方法，其特征在于，包括：
确定待测超短超强激光的光斑；
根据所述光斑确定辐射变色膜的尺寸；
获取所述辐射变色膜的初始的空间二维分布的光密度值；
利用所述待测超短超强激光对所述辐射变色膜进行曝光；所述待测超短超强激光的光斑中心与所述辐射变色膜的中心重合；
获取曝光后的辐射变色膜的曝光后的空间二维分布的光密度值；
利用所述初始的空间二维分布的光密度值和所述曝光后的空间二维分布的光密度值确定所述辐射变色膜曝光前后的净光密度值；
对所述净光密度值进行标定，得到标定的拟合曲线；所述标定的拟合曲线为净光密度值与待测超短超强激光的能量密度的关系曲线；
利用公式ODnet＝0.00954×E/S+0.04956确定R扫描通道下的标定的拟合曲线；
利用公式OD′net＝0.00585×E/S+0.00374确定G扫描通道下的标定的拟合曲线；
利用公式OD″net＝0.00585×E/S+0.00374确定B扫描通道下的标定的拟合曲线；
其中，E为待测超短超强激光的能量，单位mJ，S为待测超短超强激光的光斑面积，单位为cm2；
利用所述标定的拟合曲线确定照射到辐射变色膜上的所述待测超短超强激光的能量。
2.根据权利要求1所述的一种超短脉冲激光能量测量方法，其特征在于，所述利用所述初始的空间二维分布的光密度值和所述曝光后的空间二维分布的光密度值确定所述辐射变色膜曝光前后的净光密度值，具体包括：
利用公式确定所述初始的空间二维分布的光密度值的平均值；其中，为初始的空间二维分布的光密度值的平均值，ODij为初始的空间二维分布的光密度值，R为扫描空间分辨率，S为扫描区域的总面积；
利用公式确定所述辐射变色膜曝光前后的净光密度值；其中，为所述辐射变色膜曝光前后的净光密度值，为曝光后的空间二维分布的光密度值。
3.根据权利要求1所述的一种超短脉冲激光能量测量方法，其特征在于，所述利用所述标定的拟合曲线确定照射到辐射变色膜上的所述待测超短超强激光的能量，具体包括：
利用所述标定的拟合曲线确定所述超短超强激光的能量密度；
根据所述超短超强激光的能量密度确定所述曝光后的辐射变色膜每一点的能量；
对所述曝光后的辐射变色膜每一点的能量求和，确定照射到辐射变色膜上的所述待测超短超强激光的能量。
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