[发明专利]半导体结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010534238.8 申请日: 2020-06-11
公开(公告)号: CN113809206A 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: 朱丹丹;程凯 申请(专利权)人: 苏州晶湛半导体有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/06;H01L33/10;H01L33/12;H01S5/183;H01S5/187
代理公司: 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 代理人: 林祥
地址: 215123 江苏省苏州市苏州工*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请提供了一种半导体结构及其制备方法,该半导体结构的制备方法包括:在衬底上制备缓冲层;在所述缓冲层上制备掩膜层;图形化所述掩膜层使部分暴露所述缓冲层;在所述缓冲层被所述掩膜层暴露的部分制备第一DBR结构;在所述第一DBR结构上制备发光结构。图形化的掩膜层能够提高第一DBR结构的生长质量,并且有利于后续发光结构的制备。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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