[发明专利]一种高透明高导电超薄氢掺杂氧化铟薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 202010522518.7 申请日: 2020-06-10
公开(公告)号: CN111647853B 公开(公告)日: 2022-11-08
发明(设计)人: 邢义志 申请(专利权)人: 邢义志
主分类号: C23C14/08 分类号: C23C14/08;C23C14/35;C23C14/58
代理公司: 杭州中成专利事务所有限公司 33212 代理人: 朱莹莹
地址: 广东省珠海市香洲区兰*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种高透明高导电超薄氢掺杂氧化铟薄膜的制备方法,采用射频磁控溅射,He与N2为溅射气体,溅射过程中通入H2作为掺杂源,通过调控溅射功率密度、衬底温度、沉积气压、H2掺杂量,可获得厚度在10纳米到100纳米的IOH薄膜;步骤如下:步骤1、将玻璃衬底依次放入Extran MA02中性清洗溶液、去离子水、异丙醇中各清洗5分钟;再一次将玻璃衬底依次放入Extran MA02中性清洗溶液、去离子水、异丙醇中,用超声波各清洗5分钟;步骤2、将风干的玻璃衬底放入射频磁控溅射装置中抽真空,真空度在1.0~5.0e‑5Pa范围内,通入He、N2为溅射气体、H2为掺杂源进行沉积,沉积到要求的厚度时取出,再放入到退火设备里面15~30分钟,冷却后取出基片。
搜索关键词: 一种 透明 导电 超薄 掺杂 氧化 薄膜 制备 方法
【主权项】:
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