[发明专利]一种高压气体折射率精密测量方法在审
| 申请号： | 202010514558.7 | 申请日： | 2020-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN111610165A | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 李成军;李治国;刘蕾;李国军;王朝棋;兰洋顺 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 刘妮 |
| 地址： | 621900 四川省绵*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种高压气体折射率精密测量方法，采用光学频域干涉测距系统精密测量固定长度的高压气体腔在充气前后的光程变化，并同时检测高压气体的温度和压力。如果高压气体腔在充气前后的绝对长度L |
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| 搜索关键词： | 一种 高压 气体 折射率 精密 测量方法 | ||
【主权项】：
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