[发明专利]一种高压气体折射率精密测量方法在审
| 申请号： | 202010514558.7 | 申请日： | 2020-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN111610165A | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 李成军;李治国;刘蕾;李国军;王朝棋;兰洋顺 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 刘妮 |
| 地址： | 621900 四川省绵*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 高压 气体 折射率 精密 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种高压气体折射率精密测量方法，其特征也能在于，测量固定长度的高压气体腔在充气前后的光程变化，设定充气前高压气体腔的绝对长度为L0，充气后高压气体腔的绝对长度为L，则折射率n＝L/L0。
2.根据权利要求1所述的一种高压气体折射率精密测量方法，其特征也能在于，包括以下步骤：
1)构建折射率测量靶室，通过间隔板W2和W3将测量靶室分割为三部分；
2)对测量靶室抽真空使其处于真空状态；
3)充气前测量间隔板W2和W3的距离记为L0，充气后测量间隔板W2和W3的距离记为L；
4)气体折射率n＝L/L0。
3.根据权利要求2所述的根据权利要求1所述的一种高压气体折射率精密测量方法，其特征也能在于，所述的间隔板W2和W3上设置有通孔。
4.根据权利要求2所述的根据权利要求1所述的一种高压气体折射率精密测量方法，其特征也能在于，所述的间隔板W2和W3上设置有测量样品腔长度得探针。
5.根据权利要求2所述的根据权利要求1所述的一种高压气体折射率精密测量方法，其特征也能在于，所述的测量靶室上设置有压力传感器。
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