[发明专利]一种相位波动测量方法及系统在审
| 申请号： | 202010483070.2 | 申请日： | 2020-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN111579883A | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 张首刚;范思晨;阮军;刘丹丹 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家授时中心 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R25/00 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 杜阳阳 |
| 地址： | 710600 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种相位波动测量方法，及系统所述测量方法包括：获取待测信号和参考信号；将所述待测信号转换至千赫兹，得到下转换信号；将所述下转换信号和所述参考信号进行混频滤波，得到第一低频分量；将所述参考信号移相预先设定度数，并与所述下转换信号混频，得到第二低频分量；基于所述第二低频分量和所述第一低频分量得到相位差。本发明中的上述方法及系统能够减小微波泄漏频移。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相位 波动 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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