[发明专利]一种相位波动测量方法及系统

说明书

本发明涉及一种相位波动测量方法，及系统所述测量方法包括：获取待测信号和参考信号；将所述待测信号转换至千赫兹，得到下转换信号；将所述下转换信号和所述参考信号进行混频滤波，得到第一低频分量；将所述参考信号移相预先设定度数，并与所述下转换信号混频，得到第二低频分量；基于所述第二低频分量和所述第一低频分量得到相位差。本发明中的上述方法及系统能够减小微波泄漏频移。

技术领域

本发明涉及射频领域，特别是涉及一种相位波动测量方法及系统。

背景技术

在铯原子喷泉钟系统，微波激励信号的频率被锁定在原子共振频率上。频 率控制是由相位差测量得到的。在每个周期中，原子叠加和共振场之间的累积 相位差被评估。如果现场驱动信号的相位受到干扰，就会发生相位差测量误差。 对于周期同步扰动，每个周期的误差是相同的。这将影响频率控制，从而导致 喷泉频率的偏移。

为了减小微波泄漏频移，需研制微波干涉开关，而微波干涉开关引起的相 位波动需搭建相位波动测量系统。

发明内容

本发明的目的是提供一种相位波动测量方法及系统，以减小微波泄漏频 移。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种相位波动测量方法，所述测量方法包括：

获取待测信号和参考信号；

将所述待测信号转换至千赫兹，得到下转换信号；

将所述下转换信号和所述参考信号进行混频滤波，得到第一低频分量；

将所述参考信号移相预先设定度数，并与所述下转换信号混频，得到第二 低频分量；

基于所述第二低频分量和所述第一低频分量得到相位差。

可选的，所述下转换信号具体采用以下公式：

u₁(t)＝v₁sin[2πf_difft+θ₁(t)]，其中，u₁(t)表示下转换信号，v₁表示振幅，f_diff表示频率，θ₁(t)表示u₁(t)的初相位。

可选的，所述参考信号具体采用以下公式：

u₂(t)＝v₂sin[2πf_signalt+θ₂(t)]，其中，u₂(t)表示参考信号，v₂表示振幅，f_signal表示频率，θ₂(t)表示u₂(t)的初相位。

可选的，将所述下转换信号和所述参考信号进行混频滤波，得到第一低频 分量具体采用以下公式：

其中，u_M(t)表示第一低频分量，v₁′表示u_M(t)的振幅，θ₁(t)表示u₁(t)的初相位、θ₂(t)表示u₂(t)的初相位，θ₁(t)-θ₂(t)表示相位差。

可选的，将所述参考信号移相预先设定度数，并与所述下转换信号混频， 得到第二低频分量具体采用以下公式：