[发明专利]一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法在审
| 申请号： | 202010448517.2 | 申请日： | 2020-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN111595810A | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 刘荣海;孔旭晖;郭新良;郑欣;杨迎春;蔡晓斌;周静波;许宏伟;焦宗寒;宋玉锋;李宗红;杨雪滢;程雪婷;陈国坤;代克顺;何运华;屈直 | 申请（专利权）人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01N21/3586 | 分类号： | G01N21/3586;G01N21/95;G01N21/88;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本申请提供一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法，获取待测绝缘材料的时域光谱曲线和待测特征峰值；调取所述被检测绝缘材料的正常时域光谱曲线图和正常特征峰值；通过待测特征峰值与正常特征峰值之差获得特征峰值偏离值；在所述特征峰值偏离大于正常特征峰值的百分之十时，获取多个角度成像的静态图像并得到灰度值分布；随机选取多个微小区域，以及每个所述区域的灰度平均值；计算多个灰度平均值的平均值和方差；若方差大于等于预设值时，待测绝缘材料已发生区域老化；若方差小于所述预设值时，待测绝缘材料整体老化；通过绝缘材料的太赫兹图像和时域光谱，判定绝缘材料的老化区域，是局部还是整体老化，无需破坏材料本体的一种无损检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 赫兹 检测 绝缘材料 评估 方法 | ||
【主权项】：
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