[发明专利]一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法

权利要求书

1.一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测绝缘材料的时域光谱曲线，得到待测特征峰值；

调取所述被检测绝缘材料的正常时域光谱曲线图，得到正常特征峰值；

获取特征峰值偏离值，所述特征峰值偏离值由所述待测特征峰值与所述正常特征峰值之差获得；

在所述特征峰值偏离大于正常特征峰值的百分之十时，获取多个角度成像的静态图像，对所述静态图像处理得到灰度值分布；

在所述静态图像上随机选取多个微小区域，以及每个所述区域的灰度平均值；

计算多个灰度平均值的平均值和方差；

若所述方差大于等于预设值时，所述待测绝缘材料已发生区域老化；

若所述方差小于所述预设值时，所述待测绝缘材料整体老化。

2.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述特征峰值偏离小于等于正常值的百分之十时，判定所述被检测绝缘材料无老化。

3.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法，其特征在于，所述待测绝缘材料中含有金属材料时，测量时避开所述金属材料。

4.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法，其特征在于，所述获取待测绝缘材料的时域光谱曲线通过太赫兹时域光谱仪测试得到。

5.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法，其特征在于，所述获取多个角度成像的静态图像通过太赫兹成像仪测试得到。

6.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹检测的绝缘材料评估方法，其特征在于，在所述静态图像上随机选取多个微小区域，以及每个所述区域的灰度平均值；计算多个灰度平均值的平均值和方差包括：

在所述静态图像上随机选取i个微小区域，每个区域的灰度平均值为N1、N2、……、Ni，计算N1、N2、……、Ni的平均值和方差。