[发明专利]芯片老化的检测方法、系统、设备及计算机存储介质在审
| 申请号： | 202010374151.9 | 申请日： | 2020-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN113625148A | 公开（公告）日： | 2021-11-09 |
| 发明（设计）人： | 周进群;李新强;苏鹏;曾泉;刘建辉 | 申请（专利权）人： | 天芯互联科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 瞿璨 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种芯片老化的检测方法、系统、设备计算机存储介质。所述方法包括：在老化测试环境下对放置于夹具中的多个待检测芯片进行巡检，获取每一待检测芯片是否异常信息；在显示界面显示每一待检测芯片的图标，待检测芯片的图标在显示界面的位置对应待检测芯片在夹具中的位置，图标中包括是否异常信息。本申请的芯片老化的检测方法提高了芯片的老化检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 老化 检测 方法 系统 设备 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天芯互联科技有限公司，未经天芯互联科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010374151.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：耦合器、回路室内分布系统和信号均衡方法
- 下一篇：电子装置
