[发明专利]层叠型电子元件的失效点定位方法、装置和系统有效

专利信息
申请号: 202010355856.6 申请日: 2020-04-29
公开(公告)号: CN111665403B 公开(公告)日: 2022-12-23
发明(设计)人: 林道谭;夏星贤;石高明;莫富尧;冯丽婷;李伟利;邓晶;吴谋智 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01J5/48
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 张彬彬
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及一种层叠型电子元件的失效点定位方法、装置和系统。在层叠型电子元件的失效点定位方法中,为失效的层叠型电子元件施加电信号,并通过红外热成像分析采集介质体的第一表面的红外图像,且采集介质体的第二表面的红外图像;其中,第一表面与第二表面是呈夹角连接的两个表面;进一步地,可根据两个表面的红外图像来确认异常热点的三维坐标,实现失效点的定位。基于此,通过相连接的两个表面的温度分布定位,能够有效提高层叠型电子元件的失效点定位的准确度,同时,不需要加热台辅助,节省失效分析时间且降低试验难度。
搜索关键词: 层叠 电子元件 失效 定位 方法 装置 系统
【主权项】:
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