[发明专利]一种辐照条件下介质材料微波介电性能测试方法在审
| 申请号： | 202010335055.3 | 申请日： | 2020-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN111505387A | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 向锋;李建壮;熊刚;张波;郭永钊;董亦鹏 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 王艾华 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种辐照条件下介质材料微波介电性能测试方法，本发明采用固定腔长法测量辐照条件下的微波介质材料的微波介电性能，不需要调节腔体的长度，使系统结构更加简单。通过半开放结构采用电子枪或伽马射线源设备，把辐射源固定在一定的角度位置，使辐射粒子方便准确的打到被测样品上，利用谐振法的基本测试原理实时测试辐照强度、剂量等参数对介质材料介电性能的影响，满足了模拟空间环境实时测试要求。由于准光腔属于开放腔，辐射源设备比较容易安装，本发明具有结构简单、操作方便、价格低廉、效率高、精确度高等优点，可以很好的在辐射条件下，进行微波介质材料的微波介电性能的测试，从而有利于研究航天器微波器件受辐照条件的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐照 条件下 介质 材料 微波 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
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