[发明专利]一种辐照条件下介质材料微波介电性能测试方法

权利要求书

1.一种辐照条件下介质材料微波介电性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：研发准光腔结构尺寸，实现腔体结构尺寸更适合用于辐照条件下的实时测试，凹面镜曲率半径为300，凹面镜半径为165mm，平面镜半径为130mm，腔体高150mm；

步骤2：采用辐照源自动化发射装置，通过控制不同电子枪加速电压(30kv～150kv)的大小，来实现对样品不同剂量及强度的辐照；

步骤3：利用labview编写测试系统控制软件，实现对辐射源辐射量的控制以及对整个系统进行实时测试的控制，通过系统操作界面输入扫描参数和电子枪控制电压大小，即可进行介质材料的微波介电性能测试；

步骤4：实现软件和硬件的结合，并利用标准样品聚四氟乙烯和蓝宝石对系统进行校准，搭建完整可用的微波介电性能测试系统；

步骤5：启动真空装置，保持辐射源处于关闭状态，利用研发的测试系统控制软件进行空腔测试，记录S参数、谐振频率f、和品质因数Q；

步骤6：保持辐射源处于关闭状态，把样品放入准光腔的平面镜上，启动真空装置，利用研发的测试系统控制软件进行样品的微波介电性能测试，根据品质因数Q和S参数的变化，计算样品的介电常数ε₁和记录谐振频率f₁、品质因数Q₁；

步骤7：保持样品处于原来的位置，开启辐射源设备，利用研发的测试系统控制软件进行样品的微波介电性能测试，根据品质因数Q和S参数的变化，计算样品的介电常数ε₂和记录谐振频率f₂、品质因数Q₂；

步骤8：重复步骤6，7，利用测试系统控制软件控制辐射源的辐射强度及辐照剂量，根据微波介电性能测试系统得出的结果分析样品在辐射粒子不同强度或剂量作用下的微波介电性能。