[发明专利]一种纳米级孔隙结构变化的判断方法及应用有效
| 申请号： | 202010281035.2 | 申请日： | 2020-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN111537416B | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 韩美玲;张金川;魏晓亮;苔丝 | 申请（专利权）人： | 中国地质大学（北京） |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 李坤 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本发明涉及致密储层结构判断技术领域，具体公开一种纳米级孔隙结构变化的判断方法和应用。所述判断方法包括：a、将真空脱气后的纳米级孔隙结构样品置于液氮中，获得样品的氮气吸附量随相对压力P/P |
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| 搜索关键词： | 一种 纳米 孔隙 结构 变化 判断 方法 应用 | ||
【主权项】：
暂无信息
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